WGZ-IIA光強分布測定儀
單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定；小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗；偏振光實驗光強變化的測定；驗證馬呂斯定律.1.導軌長度:1000mm .2.半導體激光器:配置精密二維調整架，波長635nm，功率3mv.

WGZ-IIA光強分布測定儀

單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定；小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗；偏振光實驗光強變化的測定；驗證馬呂斯定律.

WGZ-IIA光強分布測定儀參數

1.導軌長度:1000mm .2.半導體激光器:配置精密二維調整架，波長635nm，功率3mv.3.分劃板:小孔狹縫板和光柵.4、可調狹縫寬度:0—1 mm（連續可調）.5、擴束鏡倍率: 13X  .6、一維光強分布測量距離 :＞80 mm.ZUI小讀數：0.01 mm.7、偏振光實驗測量范圍 :360°,刻線ZUI小讀數：2°.8、數字式檢流計:光電流測量范圍：0~2×10-4A,ZUI小讀數：1×10-10A.9、供電電源:交流220V±11V，頻率50HZ（交流穩壓）

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